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SEM - MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE VARRIMENTO

Microscópio Eletrónico de Varrimento (SEM) da Hirox, com sistema EDS da Bruker

Microscópio Tabletop, de fácil manuseamento, com:

- Platina de colocação de amostras com possibilidade de até 5 eixos completamente automatizados;

- Ampliação máxima até 150 000 X, com intensidades do feixe de eletrões de 1Kv até 30 Kv;

- Conforme modelo, poderá estar equipado com SE (Secondary Electrons), BSE (Backscattered Electrons) e EDS (Energy Dispersive Spectrospcopie), com alto e/ou baixo vácuo.